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菲希尔FISCHER X射线XULM240

菲希尔FISCHER X射线XULM240

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菲希尔FISCHER X射线XULM240,基于 X 射线荧光光谱技术,X 射线激发样品镀层产生特征荧光,通过检测荧光强度结合基本参数法(FP 法) 计算镀层厚度 / 元素成分;全程无损、无需破坏样品。主打微聚焦测量,特别适合电子接插件、PCB、珠宝钟表、精密电镀件等微小结构的检测。

菲希尔FISCHER X射线XULM240的详细资料:

菲希尔FISCHER X射线XULM240

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240关键技术规格

X 射线源:50 kV/50 W 钨靶微聚焦 X 射线管;

准直器与滤片:4 个电动切换准直器(最小 0.05×0.05 mm),3 个自动切换初级滤片;最小测量点约 0.09×0.09 mm;

探测器:比例计数管,高计数率,缩短测量时间;

观测系统:500 万像素彩色视频显微镜,38×–184× 变焦,可实时观察测量点;

样品空间:样品高度 170 mm,测量距离 0–27.5 mm 可调;

精度表现:Au>0.1 μm 时,标样校准误差 <±5%,无标样 <±10%;80 nm 金镀层重复精度达 2.5 nm,COV<5%;

软件:配套 WinFTM® 专业软件,支持数据实时传输、自动校准、统计分析、自定义报告导出;

安全:通过型式批准的全防护设备,符合 RoV 等法规要求。



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